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日本大冢電子nanoSAQLA納米粒度測(cè)定儀的技術(shù)解析
發(fā)布時(shí)間: 2025-07-14 點(diǎn)擊次數(shù): 4次日本大冢電子(Otsuka)推出的nanoSAQLA納米粒度測(cè)定儀是一種基于動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù)的粒度測(cè)量裝置。該設(shè)備能夠測(cè)量粒徑范圍在0.6nm至10μm之間的顆粒,適用于從稀薄到濃厚系的廣泛濃度范圍的多檢體測(cè)定。nanoSAQLA采用了新的光學(xué)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室所需的輕量化、小型化,并且標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間為1分鐘,提供了高速測(cè)定的能力。此外,該設(shè)備是非浸泡型設(shè)計(jì),不受接觸器影響,無(wú)需自動(dòng)取樣器,標(biāo)配“5檢體連續(xù)測(cè)量”功能,為用戶帶來(lái)了極大的便利。
nanoSAQLA的光源采用高功率半導(dǎo)體激光(660nm、70mW),配備高感度APD檢測(cè)器,能夠連續(xù)測(cè)量最多5個(gè)樣品。測(cè)量范圍為0.6nm至10μm,濃度范圍為0.00001%至40%,溫度范圍為0至90℃,并具備溫度梯度功能。樣品容量適用于四面透光比色皿(1.2mL以上)和微量比色皿(20μL以上),設(shè)備的尺寸為W240 X D480 X H375 mm,重量約為18 kg。
軟件方面,nanoSAQLA配備了平均粒徑分析(累積量法)、粒徑分布解析等功能,支持Marquardt法、Contin法、NNLS/Unimodal法等多種分析方法。此外,設(shè)備還具備粒度分布重疊、逆相關(guān)數(shù)殘差Plot、粒徑監(jiān)測(cè)等功能,粒徑表示范圍為0.1至106 nm。設(shè)備還符合21 CFR Part11標(biāo)準(zhǔn),可選配微量樣品池(20μL起對(duì)應(yīng))和熒光濾光片。
nanoSAQLA納米粒度測(cè)定儀以其高精度、高效率和靈活性,在科研和工業(yè)應(yīng)用中發(fā)揮著重要作用,是實(shí)現(xiàn)精確粒度控制的理想選擇。
產(chǎn)品中心
Products
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農(nóng)用機(jī)械
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質(zhì)構(gòu)儀
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糖度計(jì)
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測(cè)試儀
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氣泵
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成分分析儀
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分析儀器
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試驗(yàn)機(jī)
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檢查燈
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研磨介質(zhì)球
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光學(xué)儀器
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檢驗(yàn)儀
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鑒別儀
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濃度計(jì)
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涂布機(jī)
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超聲波均質(zhì)機(jī)
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傳感器
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壓力表
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位儀計(jì)
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露點(diǎn)儀
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數(shù)字水平儀
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水分計(jì)
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溫度計(jì)
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厚度計(jì)
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光度計(jì)
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焊接機(jī)
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切割機(jī)
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應(yīng)力儀
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水平儀
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均質(zhì)機(jī)
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診斷儀
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控制器
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馬達(dá)
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去除機(jī)
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零件進(jìn)料器
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研磨計(jì)
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真空計(jì)
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球閥
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點(diǎn)膠機(jī)
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粘度計(jì)
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過(guò)濾器
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照度計(jì)
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點(diǎn)焊機(jī)
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混合機(jī)
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伊原電子密度計(jì)
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塑料粒子色選機(jī)
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臭氧儀
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質(zhì)量計(jì)
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錘磨機(jī)
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密度計(jì)
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張力計(jì)
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監(jiān)測(cè)儀
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比色計(jì)
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電導(dǎo)率儀
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冷卻器
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離子計(jì)
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粉碎設(shè)備
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耗材/配件
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傳熱設(shè)備
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測(cè)量/計(jì)量?jī)x器
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大米樣品保存箱
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研究用小型色選機(jī)
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光源
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陶瓷材料
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水質(zhì)檢測(cè)設(shè)備
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物性檢測(cè)設(shè)備
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氣體檢測(cè)儀
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茶葉生產(chǎn)線
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日本進(jìn)口
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行業(yè)專用儀器
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電氣設(shè)備
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加熱裝置
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水產(chǎn)設(shè)備